Пакет программного обеспечения - FRT Mark III для анализа


Вся информация одним взглядом



FRT Mark III – это пакет уникального программного обеспечения с всеобъемлющим набором функций для анализа профилей, шероховатости и 3D данных. Возможен анализ данных различных форматов промышленного стандарта.

Все системы компании FRT рассчитаны на работу с ПО Mark III. Однако это пакет ПО можно приобрести отдельно.


Требования к системе:

- ПК под управлением ОС Microsoft Windows™ 2000/XP
- 128 МБ ОЗУ (рекомендуется 256 МБ и больше)
- SuperVGA (800 x 600) или более высокое разрешение
- видеоадаптер и монитор
- 35 МБ свободного места на жестком диске
- один USB-порт
- Microsoft Internet Explorer™


Особенности:

- поддержка различных форматов файлов профилометра и сканирующего зондового микроскопа
- исчерпывающие процедуры модификации и фильтрации
- режим просмотра 3D, профиль и вид сверху
- настраиваемые углы обзора с искусственным освещением
- функция сравнения, функция масштабирования
- анализ расстояний, площадей, объемов, углов и т.д.
- измерение профиля и динамического профиля
- определение шероховатости/волнистости в соответствии с DIN EN ISO и MOTIF
- определение высоты ступени
- определение компланарности и высоты выпуклости
- вычисление плоскостности
- вычисление гистограмм, характеристик опорной поверхности, размеров зерна, фрактальных размеров
- вычисление спектральной плотности мощности и автокорреляции
- подгонка процедур, например, для определения асферичности и кривизны
- калибровка по осям x, y и z, например, графики REM или LM
- автоматическое протоколирование этапов анализа и результатов
- импорт и экспорт данных в BMP-, JPG-, PNG- и TIF-файлах
- язык: английский или немецкий
- поддержка клиентов по телефону, факсу, электронной почте
- бесплатные обновления


Поддерживаемые форматы данных:


- Argus
- текст ASCII
- ATOS PLµ
- Burleigh
- Fries Research & Technology
- Hommelwerke
- Klocke
- Nanotechnik Klughammer
- Park Scientific Instruments
- Perthometer D-Profil und Perthometer Concept (PCD)
- Mahr RM600 Surface Imaging Systems (S.I.S.)
- формат SDF
- Veeco Metrology Group (Digital Instruments NanoScope, Veeco Dektak)



Возможна поддержка других форматов по заказу.

Загрузить демоверсию программы можно с веб-сайта www.frt-gmbh.com.



Каталог приборов для трехмерного контроля поверхности FRT (Германия)