Поставляем оборудование в ваш регион

Атомно-силовой микроскоп (AFM)


Исследование микромира



Атомный силовой микроскоп (AFM) – это высокочувствительная измерительная головка, в которой используется пьезосканер, обладающий высокой разрешающейспособностью. Это позволяет достичь субнанометрового диапазона. Помимо измерения топографии поверхности, различные доступные режимы измерения позволяют определять большое число других свойств поверхности. В базовой конфигурации используется контактный режим измерения.

Благодаря возможности систем MicroProf® и MicroGlider® работать с несколькими датчиками, датчик AFM можно использовать в комбинации с оптическими датчиками, что позволит расширить диапазон измерения от нескольких микрометров до 600 мм.


Режимы измерения:

- контактный режим
- бесконтактный режим
- магнитная/электростатическая сила
- режим эластичности
- режим силы трения/поперечной силы
- режим зонда Кельвина
- анализ жидкостных образцов


Технические характеристики:


Принцип измерения

Атомно-силовая микроскопия (AFM)

Диапазон измерения по осям X, Y

20 мкм х 20 мкм

40 мкм х 40 мкм

80 мкм х 80 мкм

Диапазон измерения по оси Z

мин. 2 мкм

мин. 4 мкм

мин. 6 мкм

Принцип детектирования

волоконно-оптический интерферометр

Разрешение по осям X, Y

станд. 5 нм

Разрешение по оси Z

станд. 2 нм

Скорость сканирования

1-5 линий/с



Каталог приборов для трехмерного контроля поверхности FRT (Германия)